环球报道:爱德万测试V93000和T2000 测试系统有哪些部分组成？

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(资料图)

中国的半导体市场飞速发展, 已经成为全球最大的I C消费市场。与此同时, 中国正在从低成本、模仿为主的低端制造, 逐步转向设计创新、系统集成的高端制造。国内半导体产业的不断发展和完善, 带动了测试领域的快速发展, 对测试技术的需求大幅提升。为了满足市场对于产品的功能、性能以及系统集成度持续增长的需求，芯片制造商较多采用SOC 技术，将越来越多的功能集成在一颗芯片之上，这其中可能包括了IP 内核、复杂的数字逻辑电路、模拟电路、RF 射频电路、嵌入式存储器、高速数据总线和通讯接口电路，然而，测试这样复杂的SOC 芯片却是一个巨大的挑战。

V93K 是单一平台的可升级系统

爱德万测试 V93K 超大规模SOC 测试系统正是为了满足市场的这个需求而量身度造的，它使您可以在一个测试平台之上，以最低的测试成本，快速、有效而全面地完成上述的各项测试，确保在激烈的市场竞争中立于不败之地。在数字测试通道数方面：V93K具有高度可扩展性，例：LTH 使用PS1600 数字通道卡，可从128 通道扩展至4096 通道(以128 通道为最小扩展单位)。数字测试速度：以PS1600 数字通道卡为例，具有从100M~1600M 数据率根据要求升级，无需更换板卡。并且V93K支持多种测试速度的数字通道板卡混插，各类丰富的模拟测试模块可供选择的模拟测试。

T2000 集成电路测试系统

T2000SOC集成电路测试系统成功地实现了测试系统集成度高、灵活配置、自由升级、测试能力强大、使用寿命周期长的特点。T2000系列包括多种不同测试模块，它们分别是强大数字模块、性能各异的模拟模块、品种多样的电源模块;由于它功能强大和灵活自由，满足了各类不同的SOC集成电路的评价测试和大规模量产。

T2000测试系统通过测试程序控制，产生、生成被测集成电路的输入信号并对被测成电路的输出信号进行检测，从而完成被测集成电路的参数测量及好坏判定。可以针对各类数字、模拟集成电路芯片，测试各类集成电路的电性能参数并判定他们的好坏，检查测试被集成电路的功能，并测量其各项参数指标。

如图片所示，测试系统主要由三大部分构成的:

测试系统控制电脑(主控工作站)：主控工作站是整个测试系统的控制中枢，它主要负责测试程序的管理、编译、运行和各种测试数据的处理演算等;主控工作站直接控制测试系统的各个测试部分，指挥并监督测试系统安全运行。测试系统软件也是通过安装在工作站内来实现测试控制功能的。

测试系统机柜主架：机柜主架主要为测试系统提供各类规格不同的精确电源、温度控制、冷却循环控制、烟雾/温度等各类安全监测系统。

测试系统测试头: 测试系统的各种测试模块都安装在测试头中，这样测试模块包括：数字测试模块、电源测试模块等，测试系统就是通过这些不同功能的测试模块来实现各种测试功能的。

环球报道:爱德万测试V93000和T2000 测试系统有哪些部分组成？

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